学会・受賞

データ解析コンペティションのDB部会で最優秀賞を受賞しました

平成25年度データ解析コンペティションDB部会の最終報告会が東京電機大学で2014年2月25日に開催されました。この報告会で、川越・黄研究室3回生の山本泰史君、向後憲治君、菅野滉介君による「スキャンパネルデータを用いた限定商品分析システム」を発表し、最優秀を受賞しました(発表は山本君)。3月4日に淡路島で、表彰式がありました。今回の受賞により、3月27日に開催される、各部会での選抜チームによる成果発表会で発表することになります。

発表の模様   IMG_0030ups

表彰式の模様表彰

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